XDV-u
通过创新的X-Ray多细管光学聚焦及高能量解像度的半导体接收器
XDV-u是一部测量极小零件中的镀层厚度及成份分析的理想仪器
例如：电路板、连接器及引线框的测量。
XDV-u配置了一个快速移动及准确对位的XY(Z)测量桌
很容易便可以进行位置编程式的测量
平均格子式的测量是十分容易便可以完成的。
深圳市中测古德科技有限公司座落于深圳西部工业重镇沙井，集研发、生产、进口品牌X-Ray膜厚检测仪器销售及技术服务为一体,给企业提供更为便捷、专业、全面的用机服务。公司与多家国外知名企业建立了长期良好的...
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