菲希尔膜厚仪销售及售后

XULM

2018-11-28handler517

XULM

XULM

XRF镀层厚度分析仪,操作简单,有的功能价格比。

XULM特别适合于测量大量不同形状的元件,只需极少精力定位。

手动测量台,样品定位非常容易及快速。

XULM系列是属于小巧型的荧光光谱仪

可用于镀层厚度及物料分析测量。

X-Ray荧光的发射及接收器都是装置在仪器的底部,

这样的设计特别适合测量一些不同形状及细小的样品,

不需要每次移动测量头来对焦距。

更是配备了微焦距的X-Ray管,测量点的面积会更小

适合测量一些更细小型五金零件的电镀层测量

例如:电线、端子中的针头等等。

此型号仪器特别适合的测量样品包括:

手表、珠宝、端子、电路板......



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